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泰勒霍普森 Surtronic S-116便攜粗糙度儀信息
點(diǎn)擊次數(shù)：45 更新時(shí)間：2025-09-24 打印本頁面 返回
泰勒霍普森 Surtronic S-116 是一款高性能、經(jīng)濟(jì)實(shí)用的便攜式表面粗糙度測量儀，廣泛應(yīng)用于各類制造現(xiàn)場的質(zhì)量檢測環(huán)節(jié)。作為Surtronic系列中的經(jīng)典型號(hào)，S-116 繼承了泰勒霍普森在表面計(jì)量領(lǐng)域的技術(shù)優(yōu)勢，具備操作簡便、測量精準(zhǔn)、穩(wěn)定性高等特點(diǎn)。該儀器支持符合ISO 4287/4288、ASME B46.1等國際標(biāo)準(zhǔn)的多種粗糙度參數(shù)，包括Ra、Rz、Rt、Rq等，滿足不同行業(yè)的檢測需求。S-116 配備清晰的LCD顯示屏和直觀的菜單系統(tǒng)，即使在光線不佳的車間環(huán)境中也能輕松讀取數(shù)據(jù)。其內(nèi)置存儲(chǔ)可保存多達(dá)100組測量結(jié)果，并可通過USB接口導(dǎo)出至電腦進(jìn)行進(jìn)一步分析。儀器采用可更換式測針設(shè)計(jì)，適應(yīng)不同工件表面形狀，測量范圍廣，重復(fù)性好。此外，S-116 結(jié)構(gòu)緊湊、重量輕，便于隨身攜帶，電池供電使其在無外接電源條件下仍可長時(shí)間工作。憑借可靠的性能和高性價(jià)比，Surtronic S-116 成為中小型企業(yè)及一線質(zhì)檢人員進(jìn)行日常粗糙度檢測的得力工具。
